컴퓨터 단층 촬영(CT)

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    ZEISS METROTOM

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    X-Ray 기술로 전체 부품을 측정하고 평가하세요

    ZEISS METROTOM 컴퓨터 단층 촬영기를 사용하면 단 한 번의 X-Ray 스캔으로 측정 및 검사 작업을 성공적으로 실행할 수 있습니다.

    ZEISS METROTOM - 전체 부품의 측정 및 평가를 위한 X-Ray 기술.

    해상도: 3.5~6μm
    정밀도: 구 중심점 오차 2.9 μm + L/100까지
제품설명

ZEISS METROTOM을 이용한 산업용 컴퓨터 단층촬영





ZEISS의 산업용 컴퓨터 단층촬영 장비를 이용하면 단 한 번의 X-ray 스캔으로 측정과 검사를 성공적으로 수행할 수 있습니다. 표준 인수 검사, 정밀 공학 기술, 정교한 교정 공정으로 장비의 추적 가능성을 보장합니다. 선형 가이드웨이와 회전 테이블은 정밀성에 대한 고객의 높은 요구를 충족시킵니다.  

ZEISS METROTOM을 이용하여 간편하게 측정


                                                                                                                                                                                                                      
모든 부품의 측정 및 검사
ZEISS METROTOM은 플라스틱이나 경금속으로 만든 모든 부품을 측정하고 검사하기 위한 산업용 단층촬영 장비입니다. 기존의 측정 기술로 눈에 보이지 않는 구조를 검사하려면 오랜 시간을 소모하며 부품을 한 층씩 파괴해야 합니다.
















                                                        
수많은 특성을 간편하고 정밀하게 측정
ZEISS METROTOM 단층촬영 장비를 이용하면 수많은 부품 특성을 단 한 번에 스캔할 수 있습니다. 측정 결과는 정밀하며 추적 가능합니다. ZEISS METROTOM은 접촉식 측정보다 훨씬 더 신속하게 수많은 측정 포인트를 캡처합니다. 














 

 


간편한 운영 소프트웨어로 직관적인 사용

ZEISS METROTOM OS 장비 소프트웨어 사용법을 단기간 배우면 작업자는 부품을 단층촬영하고 부품의 내부를 관찰할 수 있습니다. ZEISS CALYPSO를 이용하여 CT 데이터를 분석 평가하고, ZEISS PiWeb을 활용하여 결과를 종합 측정 보고서에 신속하게 반영할 수 있습니다.









사용 가능 소프트웨어

솔루션



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